SSD質(zhì)量的一個(gè)重要指標(biāo)就是糾錯(cuò)能力，最開(kāi)始的SSD的NAND每個(gè)存儲(chǔ)單元只放一個(gè)bit，叫SLC，后來(lái)又有了MLC，現(xiàn)在的主流的是TLC。存儲(chǔ)密度不斷增加的同時(shí)，器件尺寸變小，存儲(chǔ)單元電氣耦合性變得很復(fù)雜。比如氧化層變得很薄，比如讀取單個(gè)bit需要的讀電壓控制能力更精密等，總的來(lái)說(shuō)，SSD的NAND FLASH更容易出錯(cuò)了，或者說(shuō)SSD 上的噪聲增加了。
LDPC 軟判決算法由于有更多的信道信息，相對(duì)于BCH 和硬判決LDPC 算法更有優(yōu)勢(shì)。所以目前主流的SSD 控制器都采用LDPC 作為糾錯(cuò)算法。
NAND 糾錯(cuò)模型
我們存儲(chǔ)進(jìn)NAND的信息通過(guò)電子儲(chǔ)存起來(lái)，讀的時(shí)候通過(guò)探測(cè)器件儲(chǔ)存的電子多少來(lái)恢復(fù)數(shù)據(jù)。
LDPC糾錯(cuò)流程
NAND硬判決，數(shù)據(jù)傳輸?shù)娇刂破鳎约坝才袥Q解碼這幾個(gè)過(guò)程的速度都很快。軟判決要讀很多次，傳輸數(shù)據(jù)很多次，所以對(duì)SSD的性能產(chǎn)生不好的影響。
為了提高SSD的性能，一種普遍的優(yōu)化是，把LDPC的軟判決的分辨率變成動(dòng)態(tài)可調(diào)，這樣只有最壞的情況下，才需要最高的分辨率去讀。這樣在大部分情況下，SSD的軟判決讀和軟判決傳輸數(shù)據(jù)的時(shí)間開(kāi)銷大大變小。
